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STM32 ADC内部原理

单击上面的蓝色文本关注我〜01前言我使用ADC已有很长时间了,我从未研究过ADC的内部原理以及如何获得最佳精度。我看到了一份不错的ST正式文档,我将在这里进行组织并与您共享。 。 02 SAR ADC的内部结构STM32微控制器中的内置ADC使用SAR(逐次逼近)原理进行多步转换。转换步骤数等于ADC转换器中的位数。每个步骤均由ADC时钟驱动。每个ADC时钟从结果到输出产生一位。 ADC的内部设计基于开关电容器技术。下图描述了ADC的工作原理。以下示例仅显示了近似的前几个步骤,但是该过程将一直持续到LSB。 SAR开关电容ADC的基本原理(以10位ADC为例)具有数字输出的ADC的基本原理采样状态采样状态:电容器被充电至电压VIN。在采样过程中,将Sa切换到VIN,将Sb开关闭合。保持状态保持状态:输入断开,电容器维持输入电压。 Sb开关打开,然后S1-S11接地,Sa切换到VREF。逐次逼近1.第一步。 S1切换到VREF。比较VIN与VREF / 2 2.如果MSB = 0,则与¼VREF比较,并且S1切换回地。 S2切换到VREF。 3.如果MSB = 1,则与3 / 4VREF进行比较,并且S1保持接地。 S2切换到VREF。重复上述步骤,直到LSB。可以简单地理解为二分法,即将输入电压与参考电压一一比较。第一次比较是在VREF / 2处,而下一次比较是根据最后一次比较结果确定的。如果MSB = 1,则将其与3 / 4VREF进行比较。如果MSB = 0,则与¼VREF进行比较。稍后决定与1 / 8VREF,3 / 8VREF,5 / 8VREF和7 / 8VREF之一进行比较。循环直到输出LSB。 /结束语/文档来源:如何获得最佳的stc32-microcontrollers-stmicroelectronics.pdf建议阅读STM32时钟分析STM32 FLASH和SRAM使用情况分析扫描代码以关注我们,以了解更多像这样的内容,许多嵌入式案例请给我们竖起大拇指,看着